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測量原理:電磁渦流感應(yīng),零接觸、零損傷
測量范圍:0.5–200 Ω/□
測量光斑:φ25 mm
核心價值:保護(hù)脆弱薄膜、透明涂層、精密面板表面無劃痕,適合大批量快速篩檢
測量原理:經(jīng)典四探針法,數(shù)據(jù)權(quán)1威可溯源
測量范圍:0.001–4000 Ω/□
針距:3 mm,測量區(qū)域 9 mm
核心價值:覆蓋超低阻到高阻全量程,滿足研發(fā)標(biāo)定、質(zhì)量仲裁、精度校準(zhǔn)需求
手持輕量化:主機(jī)約 350 g,單手可操作
自動測量:探頭輕觸 / 放置樣品即自動啟動
超長續(xù)航:電池連續(xù)工作 24 小時
數(shù)據(jù)管理:存儲 50,000 組數(shù)據(jù),支持 USB 導(dǎo)出
多單位顯示:Ω/□、S/□、膜厚 nm 一鍵切換
前道卷對卷生產(chǎn):無損探頭快速篩檢,不劃傷膜面
后道成品抽檢:四探針探頭高精度復(fù)核
實際成效:
產(chǎn)品報廢率從 0.8% 降至 0.1%
檢測效率提升 3 倍
批次一致性達(dá)標(biāo)率達(dá) 99.5%
全程使用無損探頭,輕放即測
2 秒 / 片,適配高速產(chǎn)線節(jié)拍
實時判定合格 / 不合格
實際成效:良品率達(dá) 99.8%,節(jié)能指標(biāo)穩(wěn)定達(dá)標(biāo)
無損探頭保護(hù)樣品不被破壞
四探針提供高精度基準(zhǔn)數(shù)據(jù)
直讀膜厚換算值,快速建立工藝曲線
實際成效:研發(fā)周期縮短 40%,數(shù)據(jù)可直接用于論文與專1利
無損探頭快速初篩
四探針對異常品精準(zhǔn)復(fù)核
手持便攜,倉庫 / 產(chǎn)線隨處可測
實際成效:檢驗效率提升 5 倍,不合格來料有效攔截
降本增效
一機(jī)替代無損儀 + 四探針儀兩臺設(shè)備,采購與維護(hù)成本更低。
品質(zhì)保障
無損保護(hù)高價值產(chǎn)品,接觸測量確保精度,雙重保障質(zhì)量。
全場景適配
實驗室研發(fā)、產(chǎn)線全檢、來料檢驗、現(xiàn)場抽檢均可勝任。
數(shù)據(jù)可追溯
大容量存儲 + USB 導(dǎo)出,滿足 ISO、IATF 等體系審核要求。
易用易普及
無需專業(yè)培訓(xùn),工人快速上手,降低人力成本。